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bancada de calibração térmica de longa duração para MCCB
Bancada de calibração térmica de longa duração personalizada para MCCB para testes de sobrecarga conforme IEC 60947-2. Corrente de alta estabilidade (
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Bancada de teste de corrente de anel magnético
Bancada automática de teste de corrente de anel magnético com testador HIOKI (15-50 mA). Alimentação, conexão de fios, teste e classificação em 10 compartimentos totalmente automatizados (9 aprovados + 1 reprovado). Capacidade de 20.000 peças/8 h, dados de OEE, IHM bilíngue. Ideal para classificação de núcleos magnéticos de RCCB/RCBO.
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Bancada de calibração térmica de longa duração MCB
Bancada de calibração térmica de longa duração para disjuntores de corrente nominal (MCB), destinada a ensaios de sobrecarga de acordo com a norma IEC 60898-1. Multiestação (4-16), corrente de alta estabilidade (0-500 A, THD
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bancada de testes de envelhecimento de medidores elétricos
Bancada de ensaio de envelhecimento de contadores elétricos trifásicos com fonte de alimentação de precisão ZN-D3000. Rack vertical de alta densidade (até 96 posições), monitorização de registos em tempo real, testes de comunicação (RS485/óptica), proteção automática, registo de dados. Reduz a mortalidade infantil, garante uma vida útil de 15 anos. Em conformidade com as normas IEC/ANSI.
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Máquina de teste do mecanismo de disparo do MCCB
Máquina de teste automático do mecanismo de disparo de disjuntores MCCB com mesa giratória de indexação. Medição do ângulo de abertura/fecho baseada em visão (±0,1°), testes de força de contacto e de disparo, análise da força de pico, verificação da libertação e marcação a laser QR para total rastreabilidade. 3-5 segundos por peça. Ideal para a produção em grande volume de disjuntores MCCB.
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Bancada de calibração de disparo térmico semiautomático MCB Tipo A
MCB semi‑automatic thermal trip calibration bench Type‑A with shift mechanism for multi‑model support. Programmable overload current (up to 200A), real‑time HMI, IEC 60898‑1 compliant. Ideal for labs and production QC. Semi‑auto operation reduces operator error.
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