9, ਐਮਸੀਸੀਬੀ ਦੇਰੀ ਖੋਜ ਉਪਕਰਣ

ਦੇਰੀ ਨਾਲ ਟ੍ਰਿਪਿੰਗ ਟੈਸਟ: ਇਹ ਉਪਕਰਣ ਸਰਕਟ ਵਿੱਚ ਫਾਲਟ ਸਥਿਤੀਆਂ ਦੀ ਨਕਲ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹੈ ਅਤੇ MCCB ਦੇ ਦੇਰੀ ਨਾਲ ਟ੍ਰਿਪਿੰਗ ਫੰਕਸ਼ਨ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਵੱਖ-ਵੱਖ ਕਰੰਟ ਅਤੇ ਲੋਡ ਸਥਿਤੀਆਂ ਨੂੰ ਲਾਗੂ ਕਰਕੇ, ਫਾਲਟ ਦੌਰਾਨ MCCB ਦੇ ਟ੍ਰਿਪਿੰਗ ਸਮੇਂ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਇਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ ਤਾਂ ਜੋ ਇਹ ਯਕੀਨੀ ਬਣਾਇਆ ਜਾ ਸਕੇ ਕਿ ਇਹ ਸਮੇਂ ਸਿਰ ਸਰਕਟ ਨੂੰ ਕੱਟ ਸਕਦਾ ਹੈ।
ਟ੍ਰਿਪ ਟਾਈਮ ਮਾਪ: ਇਸ ਉਪਕਰਣ ਵਿੱਚ MCCB ਦੇ ਟ੍ਰਿਪ ਟਾਈਮ ਨੂੰ ਸਹੀ ਢੰਗ ਨਾਲ ਮਾਪਣ ਦਾ ਕੰਮ ਹੈ। ਇਹ ਨੁਕਸ ਪੈਣ ਤੋਂ ਲੈ ਕੇ MCCB ਦੁਆਰਾ ਸਰਕਟ ਨੂੰ ਕੱਟਣ ਤੱਕ ਦੇ ਸਮੇਂ ਨੂੰ ਸਹੀ ਢੰਗ ਨਾਲ ਮਾਪ ਸਕਦਾ ਹੈ ਤਾਂ ਜੋ ਇਸਦੇ ਦੇਰੀ ਨਾਲ ਟ੍ਰਿਪਿੰਗ ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਨ ਦਾ ਮੁਲਾਂਕਣ ਕੀਤਾ ਜਾ ਸਕੇ।
ਟ੍ਰਿਪ ਟਾਈਮ ਐਡਜਸਟਮੈਂਟ: ਡਿਵਾਈਸ ਮੌਜੂਦਾ ਅਤੇ ਲੋਡ ਸਥਿਤੀਆਂ ਨੂੰ ਨਿਯੰਤਰਿਤ ਕਰਕੇ MCCB ਦੇ ਟ੍ਰਿਪ ਟਾਈਮ ਨੂੰ ਐਡਜਸਟ ਕਰ ਸਕਦੀ ਹੈ। ਇਸ ਤਰ੍ਹਾਂ, ਉਪਭੋਗਤਾ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਐਪਲੀਕੇਸ਼ਨ ਦ੍ਰਿਸ਼ਾਂ ਦੇ ਅਨੁਕੂਲ ਹੋਣ ਲਈ ਆਪਣੀਆਂ ਅਸਲ ਜ਼ਰੂਰਤਾਂ ਦੇ ਅਨੁਸਾਰ MCCB ਦੇ ਦੇਰੀ ਨਾਲ ਟ੍ਰਿਪਿੰਗ ਨੂੰ ਐਡਜਸਟ ਕਰ ਸਕਦੇ ਹਨ।
ਡਾਟਾ ਡਿਸਪਲੇਅ ਅਤੇ ਰਿਕਾਰਡਿੰਗ: ਇਹ ਡਿਵਾਈਸ ਟੈਸਟ ਦੇ ਨਤੀਜਿਆਂ ਨੂੰ ਡਿਜੀਟਲ ਜਾਂ ਗ੍ਰਾਫਿਕਲ ਰੂਪ ਵਿੱਚ ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਿਤ ਕਰ ਸਕਦੀ ਹੈ। ਇਹ MCCB ਦੇ ਟ੍ਰਿਪਿੰਗ ਸਮੇਂ ਨੂੰ ਅਸਲ-ਸਮੇਂ ਵਿੱਚ ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਿਤ ਕਰ ਸਕਦੀ ਹੈ ਅਤੇ ਹਰੇਕ ਟੈਸਟ ਦੇ ਡੇਟਾ ਨੂੰ ਰਿਕਾਰਡ ਕਰ ਸਕਦੀ ਹੈ। ਇਸ ਤਰ੍ਹਾਂ, ਉਪਭੋਗਤਾ MCCB ਦੇ ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਨ ਬਾਰੇ ਵਧੇਰੇ ਜਾਣਕਾਰੀ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕਰਨ ਲਈ ਟੈਸਟ ਦੇ ਨਤੀਜਿਆਂ ਦਾ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਅਤੇ ਤੁਲਨਾ ਕਰ ਸਕਦੇ ਹਨ।
ਆਟੋਮੇਟਿਡ ਟੈਸਟਿੰਗ: ਇਸ ਉਪਕਰਣ ਵਿੱਚ ਆਟੋਮੇਟਿਡ ਟੈਸਟਿੰਗ ਫੰਕਸ਼ਨ ਹੈ, ਜੋ ਕਈ MCCBs 'ਤੇ ਲਗਾਤਾਰ ਦੇਰੀ ਨਾਲ ਟ੍ਰਿਪਿੰਗ ਟੈਸਟ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਇਹ ਟੈਸਟਿੰਗ ਦੀ ਕੁਸ਼ਲਤਾ ਅਤੇ ਇਕਸਾਰਤਾ ਵਿੱਚ ਸੁਧਾਰ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਮਨੁੱਖੀ ਸ਼ਕਤੀ ਨਿਵੇਸ਼ ਅਤੇ ਟੈਸਟਿੰਗ ਸਮੇਂ ਨੂੰ ਘਟਾ ਸਕਦਾ ਹੈ।